紅外線測(cè)厚儀是塑料薄膜雙向拉伸行業(yè)中的關(guān)鍵設(shè)備，正是它的出現(xiàn)保證了雙拉生產(chǎn)線產(chǎn)品厚度均勻性。本文主要介紹紅外線測(cè)厚儀的影響因素

紅外線測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。

 影響測(cè)量精度的原因
（1） 覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
（2） 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
（3） 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;
（4） 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的.
（5） 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
（6） 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大;
（7） 渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭 和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸.

隨著社會(huì)的進(jìn)步、科技的發(fā)展，人們的環(huán)保意識(shí)越來(lái)越強(qiáng)。紅外線測(cè)厚儀由于環(huán)保無(wú)放射性物質(zhì)，很好地滿足了社會(huì)進(jìn)步的要求。行業(yè)發(fā)展的需要。目前，子啊薄膜雙向拉伸行業(yè)內(nèi)，紅外線測(cè)厚儀正在取代傳統(tǒng)的射線測(cè)厚儀，廣泛應(yīng)用于吹塑薄膜，多層薄膜。敷塑薄膜，滌綸薄膜等透明半透明薄膜的厚度的檢測(cè)與控制。