手持式XRF合金分析儀實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品表面涂鍍層厚度測量，包括電鍍、化學(xué)鍍、熱噴涂、氣相沉積以及其他表面處理技術(shù)，其厚度一般為幾微米到幾毫米。

    鍍層厚度和涂布量是衡量涂鍍層質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo)，若涂鍍層太薄，可能滿足不了零部件表面性能的要求， 達(dá)不到表面處理的目的；若覆層太厚，不僅造成材料的浪費(fèi)，還會造成涂鍍層內(nèi)應(yīng)力過大，降低了覆層的結(jié)合強(qiáng)度，特別是對零部件配合面的表面處理，要保證零部件表面處理后的尺寸和新品零部件的設(shè)計(jì)尺寸相一致，以滿足產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)的配合公差；若覆層厚薄不均，亦會對涂鍍層的多種力學(xué)物理性能產(chǎn)生不良影響。  

    目前實(shí)驗(yàn)室常用涂鍍層測量方法仍廣泛采用傳統(tǒng)的酸浸退法（化學(xué)退鍍法）來測定涂鍍層的厚度或者鍍布量，但該方法操作繁瑣，工作量大。尤為重要的是酸浸退法（化學(xué)退鍍法）在退鍍層的同時(shí)，也可能脫掉基底元素，因而影響到分析結(jié)果的準(zhǔn)確性，分析測試效率有限，而且也無法進(jìn)行現(xiàn)場無損分析。

    X 射線熒光分析作為一種*無損的分析技術(shù)，除用于均勻樣品的定性、定量分析外，還能用于表面狀態(tài)以及涂鍍層的厚度或者鍍布量的測定。

    X-MET8000系列手持式X射線熒光鍍層測厚儀是依據(jù)“JJF1306 -2011X 射線熒光鍍層測厚儀校準(zhǔn)規(guī)范”進(jìn)行校準(zhǔn)，依據(jù)DIN ISO 3497 金屬鍍層：鍍層厚度測量-X射線光譜測定法和ASTM B 568（2014）鍍層測厚標(biāo)準(zhǔn)分析方法：X射線光譜測定法 等標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行鍍層和涂鍍量測試的，使用該光譜儀不僅可以實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品的涂鍍層厚底和涂布量進(jìn)行現(xiàn)場、實(shí)時(shí)在線分析，而且還可以對電鍍液化學(xué)成份及金屬材料的牌號、化學(xué)成份進(jìn)行有效現(xiàn)場分析，分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠，能夠滿足客戶現(xiàn)場測試需求。X-MET8000系列亦可以進(jìn)行提供失效金屬材料化學(xué)成分分析，可以結(jié)合其他的分析手段尋找材料失效原因